- 半导体测试分选设备
本设备是一台用于IC终端测试(FT)阶段的高效分选机，采用JEDEC Tray供料方式，矩阵式吸嘴支持64个吸嘴独立控制，配有无氮可编程三温调节系统，实现温度精准控制，可搭载不同的测试刺激室，为MEMS传感器及Memory/MCU等产品测试校准提供精准刺激，设备已实现规模化量产测试，具备高性能、高稳定性和高效率的优势。
- 应用领域
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MEMS压力传感器
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MEMS温度传感器
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MEMS陀螺仪/加速度传感器
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存储半导体
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功率半导体
